蔡司METROTOM系列已经提供可靠的计算机断层扫描（CT）技术进行质量控制已有十二年了。第三代CT系统ZEISS METROTOM 1500提供了最好的证明，即先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。

在第三代METROTOM中，新的3k检测器生成具有更高分辨率的3D体数据集，提供更多的体素以允许检测较小的缺陷。通过检测器的不同操作模式，第三代METROTOM的扫描时间最多可减少75％，同时获得与2k检测器相当的体素大小。

 

蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整组件。使用传统的测量技术，仅在经过逐层破坏组件的耗时且成本高昂的过程之后才能检查隐藏的结构。借助蔡司METROTOM计算机断层扫描系统，一次运行即可扫描众多组件特征。所得的测量结果是精确且可追溯的。与接触式测量方法不同，蔡司METROTOM在捕获多个测量点时明显更快。

 

3D综合CT数据分析

 

易于使用甚至适合初学者的分析软件都可以在3D模式下进行完整的CT数据分析。可以精确地分析几何形状，缩孔或内部结构和组件。即使是最小的缺陷，也可以通过单个截面图像看到，并且可以根据各种标准自动进行评估。您还可以将几个组件的体积数据加载到项目中，执行趋势分析，并将分析结果与CAD数据进行比较。这样，您就可以准确地确定和记录组件的质量，并且所有这些都可以通过一个软件完成。

 

GOM CT更名

 

此外，在蔡司收购GOM之后，它还发布了原始的GOM CT，即ZEISS METROTOM 6侦察器，以最精细的方式数字化了包括内部几何在内的复杂零件。借助METROTOM 6侦察员，用户可以获得完整的3D图像，用于GD＆T分析或名义实际比较。计量CT特别擅长数字化小型塑料零件。

 

在数字化零件时，蔡司METROTOM 6侦察器由于使用高分辨率3k X射线探测器来获取测量数据而获得了出色的细节清晰度，并且每个零件都在最佳测量位置进行了测量，因此始终在尽可能高的分辨率。

 

为了生成精确的3D测量数据，蔡司METROTOM 6侦查员通过将整个测量过程中完美互连的算法与测量室的数字建模相结合，运用了数学智能。此外，该系统还具有与执行测量相关的所有组件的最佳机械稳定性。测量结果可以用一种真正可靠和高度精确的方法来评估零件的质量。

 

直观的操作和高性能

 

CT设备的控制和数据的计量评估结合在一个软件包中，从而使其他软件或中间步骤变得多余。从原始数据的记录到检查，再到测量报告的创建，整个过程链都得到了极大的简化。

GOM Volume Inspect软件允许以3D形式进行完整的CT数据分析，以评估零件质量并优化制造过程。单独的截面图像允许用户逐层查看体积，甚至可以看到最小的细节和缺陷。可以详细分析检测到的缺陷，并根据各种标准自动评估。此外，可以将多个组件的体积数据加载到项目中，执行趋势分析，并将分析结果与CAD数据进行比较。所有测量结果均记录在案，并最终合并为结构合理的报告。

 

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