计量扩展选项增加了以小尺寸（例如，每边5毫米的立方体）以高尺寸精度进行测量的能力。为此，蔡司根据相关的VDI / VDE 2630-1.3指南开发了一种新的长度测量标准XRM Check。集成的，由用户指导的校准工作流程，使用户可以校准ZEISS Xradia Versa X射线显微镜，以达到经验证的市场领先的MPE SD =（1.9 + L / 100）μm的测量精度，其中L是以毫米为单位的测量尺寸。这样就可以进行最精确的测量，并且可以使用蔡司Calypso标准计量软件对收集的数据进行进一步的尺寸分析。

 

 

X射线显微镜提供的非破坏性见解始终为研究，开发和质量保证提供了明显的优势。现在，高分辨率X射线显微镜和高精度计量技术的结合揭示了该技术的全新应用。它的优势在评估内部和外部结构时尤为突出，特别是对于传统测量设备无法访问的组件，例如内部空腔，难以触及或“隐藏”的特征以及柔性或易变形的材料。

 

借助蔡司Xradia Versa的计量扩展，用户可以确定与CAD模型中定义的公称几何尺寸的尺寸偏差，以实现小型部件（例如注塑塑料连接器或喷油嘴）的功能特征。甚至可以使用多种标准来测量复杂的零件，例如智能手机摄像头镜头组件。与破坏性方法相比，X射线测量检查技术不仅节省时间和金钱，而且由于高度精确的测量结果，可以使制造设计和工艺以及产品质量提高到一个全新的水平。

 

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